舊系統(tǒng)替代方案---VALID LR
VALID LR系統(tǒng)的研發(fā)專注于為客戶替換不受原制造商支持的舊測(cè)試系統(tǒng)。VALID LR的原生多資源架構(gòu)賦予其較強(qiáng)的靈活性，并具備無(wú)縫遷移現(xiàn)有測(cè)試程序和夾具的性能，同時(shí)保留了原有的故障檢測(cè)覆蓋率，確保用戶平穩(wěn)過渡。
Seica在舊設(shè)備替換解決方案領(lǐng)域擁有豐富的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)，已成功替換了來(lái)自不同品牌的老舊測(cè)試系統(tǒng)，為客戶以具有競(jìng)爭(zhēng)力的成本實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期的售后支持。 Seica VIP? 平臺(tái)憑借強(qiáng)大的硬件和軟件，不僅能夠兼容原有技術(shù)，還兼具高性能的先進(jìn)工具，使其除了用于現(xiàn)有舊應(yīng)用程序的替換外，還可用于開發(fā)新的測(cè)試程序。
VALID LR可從三個(gè)層面替換已停產(chǎn)系統(tǒng)：
機(jī)械方面，通過適配器可以重新使用原有夾具
電氣方面，通過數(shù)字多通道硬件可以保持原有系統(tǒng)中相同的數(shù)字 I/O 分布
軟件方面，通過自動(dòng)工具可以將現(xiàn)有的測(cè)試程序遷移到 Seica 最先進(jìn)的 VIVA? 平臺(tái)上
多功能測(cè)試能力
VALID LR 測(cè)試性能全面，可進(jìn)行在線測(cè)試、功能測(cè)試、動(dòng)態(tài)數(shù)字測(cè)試和邊界掃描測(cè)試。此外，它還可以配置一系列附加資源，如 LED測(cè)試、在板編程 (OBP) 功能和第三方儀器。
先進(jìn)的技術(shù)特性
VALID LR 采用創(chuàng)新的無(wú)電纜結(jié)構(gòu)，支持多達(dá)5888個(gè)通道（1:8數(shù)字多通道復(fù)接器），具有高性能及較高的可擴(kuò)展性。它提供多達(dá)24個(gè)可編程電源，確保能夠靈活管理上電測(cè)試。直觀、可定制的操作界面基于PLC系統(tǒng)，具有OPC-UA通信功能，可無(wú)縫集成到現(xiàn)代測(cè)試環(huán)境中。
該系統(tǒng)中每個(gè)被測(cè)件（UUT）多達(dá)64個(gè)通用 I/O 通道，并具有四個(gè)獨(dú)立的真空通道和兩個(gè)壓縮空氣通道，可實(shí)現(xiàn)高效的夾具操作。此外，VALID LR還配備了16個(gè)OBP通道，與Seica的 DeviceClip以及第三方技術(shù)兼容。前面板提供廣泛的連接選項(xiàng)，包括USB 3.0端口、以太網(wǎng)、用于調(diào)試的數(shù)字同步接口和壓縮空氣連接，確保了測(cè)試解決方案的多功能性以及前瞻性。
憑借VALID LR，Seica將繼續(xù)引領(lǐng)舊系統(tǒng)替換技術(shù)，提供創(chuàng)新的解決方案，幫助客戶提高效率，減少停機(jī)時(shí)間，優(yōu)化現(xiàn)有投資，并使其測(cè)試業(yè)務(wù)面向未來(lái)。
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